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                                  專業生產、研究及開發各類光學檢測儀器和激光干涉儀企業

                                  光學檢測儀和激光干涉儀

                                  Dyna MZ-Ⅳ動態干涉儀

                                      

                                  Dyna MZ-Ⅳ動態干涉儀廣泛用于航天、天文等精密光學領域的大口徑元件與長光程系統測量,可抑制振動和氣流的影響。



                                  儀器規格參數表:


                                  分辨率

                                  2K × 2K

                                  采樣速率

                                  10/S、4/

                                  曝光時間

                                  最短30μS

                                  樣品反射率

                                  1%100%無需衰減器

                                  RMS重復性

                                  ±0.001λ

                                  RMS精度

                                  ±0.002λ

                                  標準口徑

                                  9mm,可選配擴束器口徑50800mm

                                  顯示

                                  22寸液晶顯示器

                                  選配鏡頭

                                  F#1.0、3.0、5.0、10、13、16、25標準球面鏡頭、平面鏡

                                  重量

                                  31KG

                                  電源

                                  220V 55Hz

                                  尺寸

                                  主機331×350×340mm,電源475×260×230mm

                                  特殊分析

                                  Seidel像差、MTF,點列圖、功率譜密度分析






                                  蘇公網安備 32010202010164號

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