一、子孔徑拼接法優勢

使用干涉儀檢測大口徑光學元件時，需要配備比被測件口徑更大的標準鏡，這無疑增加了檢測成本，此外，用干涉儀直接檢測較大口徑的光學元件容易丟失高頻信息。子孔徑拼接法可以突破干涉儀自身口徑大小的限制，對更大口徑的光學元件進行高精度測量，實現“以小測大”的功能，降低了檢測成本，并且在一定程度上提高了檢測分辨率，同時還能保留被截去的面形高頻信息。

二、方法原理                   

如圖1所示，子孔徑拼接干涉檢測過程主要有以下三個步驟:子孔徑劃分、子孔徑掃描、通過子孔徑拼接算法處理數據恢復全口徑面形。

圖1 子孔徑拼接測量流程圖

（1）    子孔徑劃分

根據干涉儀視場和待測鏡面的比例大小、子孔徑之間重疊區域的大小選擇合適的子孔徑圈數，確定子孔徑個數以及分布。為了保證拼接的準確性，一般要求子孔徑之間的重疊區域不少于子孔徑口徑的1/4。

（2）    子孔徑掃描

根據子孔徑規劃找出測量各子孔徑的最佳路徑，通過干涉儀和待測鏡之間的相對運動，將干涉儀對準某個子孔徑，將該子孔徑的干涉圖調節至零條紋后進行干涉檢測，之后運動到下一個子孔徑位置，直到所有子孔徑面形均測量完為止。根據相對運動的方式不同，可以分為平移掃描和旋轉掃描，平移掃描需控制x、y軸的移動讓子孔徑檢測區域覆蓋待測件；旋轉掃描是在某一軸上進行平移，達到位置后旋轉待測件以改變子孔徑檢測區域。旋轉掃描對機械定位要求更高，但是可以減少所需平移的行程，所以應該根據具體檢測環境選擇合適的掃描方式。

圖2 掃描方式（左）平移掃描、（右）旋轉掃描

（3）    子孔徑拼接

由于在條紋調零過程中和子孔徑定位時會引入像差，導致重疊區域的相位值并不完全一致，所以需要選擇合適的拼接算法消除相鄰孔徑間的平移、傾斜（球面鏡還需要消除離焦）誤差等，將各個子孔徑檢測結果拼接到一個相同的坐標系，得出全口徑面形。