一、簡介

朗奇檢驗法是評價和測量一個光學系統像差的最簡單、最有效的方法之一。該方法的步驟是將低頻衍射光柵（小于50線對/mm）置于被檢驗透鏡焦點附近，由產生的不同衍射級次之間的干涉條紋形狀來評定透鏡的質量。朗奇檢驗的特點是簡單，快速，成本低，不受被檢驗元件口徑限制。光學界將這種光柵檢驗方法命名為“朗奇檢驗”，這種光柵成為“朗奇光柵”，所得到的檢驗圖形稱為“朗奇圖形”。以下介紹其幾何原理。

二、幾何原理

朗奇檢驗法實際上是直接測量橫向像差TA的方法，如圖1所示。其何原理是把條紋看做是光柵的陰影。被檢光學系統出射光瞳上的波像差為：

將上式改為通用形式，可得：

式中，r為出射光瞳或者被測試的表面到朗奇光柵的距離。

如果光柵的離焦量比較小，則該距離可以近似地表示為波前的曲率半徑。因此，假定一個朗奇光柵的刻線間距為d，則通?？梢允剑?/span>3）表示第m個條紋的點（x，y）：

其中，假定朗奇光柵刻線與y軸之間的夾角為φ，如圖2示。

圖1 朗奇檢驗法

圖2 波前和光柵刻線的方向關系

三、初級像差的朗奇圖

1.離焦：

圖3 帶離焦的朗奇圖樣：a)焦點外部，b)焦點上，c)焦點內部

2.球差：

圖4 帶球差的朗奇圖 a）近軸焦點 b）近軸和邊緣焦點之間

      c）邊緣焦點 d）焦點之外

3.彗差：

圖5 具有彗差的朗奇圖